Mécanique
Usinage Commande Numérique
Analyse des Matériaux
- Microscopes optiques
- Microscope électronique à balayage Jeol JSM 35 CF
- Analyseur EDS Kevex Sigma avec détecteur LINK
Etude de la structure des matériaux
- Taille de grain
- Identification des phases
- Composition chimique (semi-quantitative)
Expertises métallurgiques
- Identification des défauts
- Analyse des ruptures
Mesure épaisseur ultrason
Mesureur d'Epaisseurs SOFRANEL 36 DL PLUS